近年、医療技術の継続的な発展に伴い、虚血性脳卒中の早期診断と治療が効果的に推進されてきました。その中でも、機械的血栓除去術は、治療期間が長く、血管開存率が高いなどの利点があるため、広く使用されています。これにより、死亡リスクもある程度低下し、患者の予後も改善されました。しかし、研究によると、一部の虚血性脳卒中患者は機械的血栓除去術後もめまいを繰り返す可能性があり、身体的不快感が増すだけでなく、患者の精神的ストレスも増加し、リハビリテーションプロセスに影響を与え、予後不良のリスクが高まります。機械的血栓除去術後の虚血性脳卒中患者のめまいには、さまざまな原因が考えられます。
1. 病変部位
研究によると、虚血性脳卒中患者では、後方循環の病変がめまいの危険因子となっています。他の病変部位と比較して、後方循環梗塞による脳虚血は前庭核細胞のアポトーシスを悪化させ、前庭系の機能不全を引き起こします。さらに、機械的血栓除去後、後方循環の血液供給は回復しますが、前庭核細胞の大規模なアポトーシスの修復には長い時間がかかり、手術後短期間で患者の両側前庭系の安静電位のバランスが崩れ、めまいの発生につながります。
2. 高血圧との併発
脳卒中患者の血圧が機械的血栓除去後に大きく変動すると、局所の血液循環に影響を与え、脳組織の虚血性および低酸素性損傷が増加し、神経機能の回復に影響を与え、患者の前庭神経機能障害を引き起こし、めまい症状を引き起こします。合併性高血圧の患者は血圧の変動が大きく、脳血管痙攣または拡張の程度が一定程度増加し、局所の脳組織の低灌流につながり、細胞のアポトーシスを引き起こし、前庭神経核の損傷を引き起こし、前庭情報処理能力を低下させ、最終的にめまいのリスクを高めます。
3. CRP
炎症反応は血管内膜損傷と動脈硬化性プラーク形成の全過程を貫き、脳卒中の発生と進行に重要な役割を果たします。虚血性脳卒中患者は体内に微小炎症状態を呈することが多く、CRP レベルが異常に上昇します。手術中、患者の動脈硬化性プラークは大量の炎症因子を放出し、さらに大量の CRP を放出し、前庭神経細胞に持続的な損傷を引き起こし、めまいのリスクを高めます。
虚血性脳卒中の患者は、機械的血栓除去術後にめまいを起こす一定のリスクがあります。病変部位、合併高血圧、CRP はすべてめまいの発生に影響を与える要因です。